国产化背景下车规级芯片环境可靠性试验标准研究

作者:张送; 胡慧婧; 韦锦波; 何逸波
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随着汽车芯片短缺的持续加剧,2021全球汽车产量将减少801.7万辆。由于疫情的黑天鹅和芯片行业本身的长周期性,汽车芯片的短缺很难在短时间内消除。在“新四化”的浪潮下,汽车行业对芯片的需求将进一步扩大,汽车芯片的短缺将进一步加剧。汽车规格芯片技术的突破和产业化已成为根本解决方案。本文从现有汽车电子产品环境可靠性测试标准和国外相应标准两个方向进行了比较研究,以期为国产化条件下汽车规格芯片环境可靠性测试系统的建设提供参考。